Tektronix泰克S530/S540 /S500参数测试系统产品简介：带有 KTE 7 软件的吉时利 S530 系列参数测试系统提供高速、灵活的配置，能够随着新应用的出现和需求变化而不断发展。S530 可进行高达 200 V 的测试，而 S530-HV 可以在任何引脚上进行高达 1100 V 的测试，与竞争解决方案相比，吞吐量提高了 50%。

吉时利Keithley4200A-SCS半导体参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

LET-SP802功率半导体参数测试系统是一款测量与分析功率半导体器件静态参数的专用仪器，为所有类型的功率半导体器件提供静态参数测量解决方案。LET-SP802半导体测试系统能实现精确测量、分析功率半导体器件的静态参数。

半导体动态参数测试系统硬件优势: 1. 采用先发布的12 bit 示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数 2. 采用先发布的光隔离、高CMRR探头系统，解决SIC/GAN的 测试难点 3. 高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求

LET-5000半导体静态参数测试系统是一款测量与分析功率静态参数的专用仪器，为所有类型的功率器件提供静态参数测量解决方案。

IGCT自动测试系统核心是安规及导通性能测试的订制化标准测试平台，其核心是采用了各种仪器仪表（万用表、内阻测试仪、安规测试仪、电源等）和继电器板卡、配合测试机柜、产品的定制工装，利用虚拟仪器技术相关功能进行测试，并将检测结果保存到本地盘，MES上传到客户指定数据库；测试项目和内容步骤保存到数据库里面，数据库包含单步测试功能模块，仪器测试指令，工号权限，增加和删除编辑项目可以在数据库操作界面完成。

KC-3105 第三代功率半导体器件动态可靠性测试系统中可同时完成HTRB和DHTRB测试，整体架构模块化，通讯协议、通讯接口等采用统一标准，便于后期扩展和维护。该系统集成度高、应用覆盖面广，系统采用软、硬件一体化设计且功能丰富，在保证系统稳定运行的同时，可以快速满足功率半导体可靠性测试需求。

KC3110功率半导体高精度静态特性测试系统(实验室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模块以及车规级模块的新兴要求而进行的一次高标准产品开发。本系统可以在3KV和1000/2000A的条件下实现精确测量和参数分析，漏电流测试分辨率高达fA，电压测试分阱率最高可这nV级，以及3000V高压下的寄生电容的精密测量。全自动程控软件，图型化上位机操作界面。内置开关切换矩阵保证测试效率。