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  • LET-2000D力钛科(Letak)半导体静动态测试系统
    LET-2000D力钛科(Letak)半导体静动态测试系统

    LET-2000D力钛科(Letak)半导体静动态测试系统是满足IEC60747-8/9、JESD24标准,旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要的场合。特别对于应用第三代半导体的需要,有着较高的系统带宽,可以有效的测量出实际的器件参数。

    更新日期:2024-01-28型号:LET-2000D访问量:771
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