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  • SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000
    SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000

    SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000功能及主要参数:   适用碳化硅二极管、IGBT模块\\MOS管等器件的时间参数测试。

    更新日期:2023-04-27型号:访问量:353
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  • HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪
    HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪

    HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪设备扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补 偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。

    更新日期:2023-04-27型号:访问量:323
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  • MOS管动态参数测试仪ITC57300
    MOS管动态参数测试仪ITC57300

    MOS管动态参数测试仪ITC57300 ITC57300是美国ITC公司设计生产的高集成度功率半导体分立器件动态参数测试设备,采用测试主机+功能测试头+个性板的测试架构,可以满足N沟道、P沟道器件、双极晶体管等的各项动态参数的测试要求,且具有波形实时显示分析功能,是目前具水平的完备可靠的动态参数测试设备。

    更新日期:2023-04-27型号:访问量:436
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  • 大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT
    大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT

    大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT 华科智源IGBT电参数测试仪,可用于多种封装形式的IGBT的测试,还可以测量大功率二极管、IGBT模块、大功率IGBT、大功率双极型晶体管等器件的VI特性测试,广泛应用于轨道交通,电动汽车,风力发电,焊机行业的IGBT来料选型和失效分析。测试过程简单,既可以在测试主机里设置参数直接测试,又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试。

    更新日期:2023-04-27型号:访问量:379
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  • IGBT双脉冲测试平台PT-1224
    IGBT双脉冲测试平台PT-1224

    IGBT双脉冲测试平台PT-1224 该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过特制测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试 品牌: 华科智源 名称: 双脉冲测试平台 用途: 测试动态参数

    更新日期:2023-04-27型号:访问量:349
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  • IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT
    IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT

    IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT华科智源功率器件测试仪,测试二极管 、IGBT,MOS管,SIC器件静态参数,并生产器件传输曲线和转移曲线,测试1600A,5000V以下的各种功率器件,广泛应用于器件设计,封装测试,轨道交通,电动汽车 ,风力发电,变频器,焊机等行业的IGBT来料选型和失效分析。

    更新日期:2023-04-27型号:访问量:375
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