同惠TH513半导体C-V特性分析仪参数测试仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。 仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成

TH512 半导体C-V特性分析仪参数测试仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。 仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。

TH511半导体C-V特性分析仪参数测试仪简介：TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。 仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。

HIOKI日置 3506-10电容电阻测试仪测量仪：对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 C、(tan δ), Q测试，低电阻测量 测试源频率：1kHz，1MHz 测量时间：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB

日置C测试仪3504-60电容检测测量仪器：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 静电容量:最多可分成14类，能简单地根据测量值进行分类 控制检测功能 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C, GP-IB

HIOKI C测试仪3504-50元器件电容检测仪器：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 静电容量:最多可分成14类，能简单地根据测量值进行分类 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C, GP-IB

HIOKI日置C测试仪电容测试设备 3504-40：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C

费思FTI5000系列FTI5010-10000保险丝测试仪是专为保险丝、熔断器等产品设计的专业测试设备，严格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-2015及IEC60296-6:2010等国内外标准。通过模拟多种复杂工况（如熔断计时、电流冲击、耐久测试等），费思FTI5000保险丝测试仪能够全面验证保险丝的性能与可靠性，确保产品满足工业及汽车电子领域的高标准要求。