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力钛科(Letak)半导体静动态测试系统

简要描述:LET-2000D力钛科(Letak)半导体静动态测试系统是满足IEC60747-8/9、JESD24标准,旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要的场合。特别对于应用第三代半导体的需要,有着较高的系统带宽,可以有效的测量出实际的器件参数。

  • 产品型号:LET-2000D
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-11-07
  • 访  问  量:74

详细介绍

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LET-2000D力钛科(Letak)半导体静动态测试系统

LET-2000D力钛科(Letak)半导体静动态测试系统

是满足IEC60747-8/9、JESD24标准,旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场合。特别对于应用第三代半导体的需要,有着较高的系统带宽,可以有效的测量出实际的器件参数。

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  双脉冲测试法可以测试IGBT模块和驱动的性能,获取IGBT稳态和暂态过程中的主要参数,用以评估IGBT模块和驱动的性能,并进行电路参数的优化。

具体包括测试IGBT的实际工况、开关损耗、关断电压尖峰、开关暂态震荡情况、二极管反向恢复电流、杂散电感影响、吸收电路影响、短路保护功能等,可以通过测试进行优化栅极电阻RGON和RGOFF参数、吸收电路参数、开关频率设置等,并可以进行IGBT模块的并联和串联实验。


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  硬件优势:


  -采用12 bit示波器:正确反映波形的细节,并准确计算出参数


  -采用光隔离、高CMRR探头系统,解决SIC\GAN的测试难点


  -高带宽的电压和电流探测,弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求


  -可以满足上/下管测试,避免频繁连接探头


  -电压覆盖范围宽、并可以再次扩展


  -器件驱动设计支持SIC/GAN器件


  -系统带宽:>400MHz


  -系统可以定制


  半导体动态参数测试系统


软件特点:


测量参数齐全:开关参数、短路参数、反向恢复参数

支持器件类型多:单管/模块,MOSFET、IGBT、FWD、GTR…

测试方式:单脉冲、多脉冲

离线数据分析:既可以在线测量,也可以记录数据离线分析

测试UI符合工程师的使用习惯

测量项目及器件支持扩展


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