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IGBT/SIC模块功率循环试验系统

简要描述:IGBT/SIC模块功率循环试验系统
华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方式:键合线失效和焊料层老化。实验的关键是控制结温的波动范围以及最高温度,得到不同条件下的实验寿命,从而得到IGBT的寿命。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-01-29
  • 访  问  量:1090

详细介绍

品牌其他品牌应用领域能源,电子,汽车,电气

GBT/SIC模块功率循环试验系统

主要技术规格和性能:

产品型号GKH-IGBT-3000A,GKH-PC-1500A
符合标准试验线路及试验方法满足MIL-STD-750、GJB128、IEC60747-9及AEC-Q101相关标准要求。
试验电流最大加热电流IH为3000A
系统组成一台K系数测试机,GBT/SIC模块功率循环试验系统一台试验机及一台制冷机组成。一套系统中即可测量器件的K系数,又可测量器件的热阻值。并可对多只产品串联做功率循环试验。

①整机可以测试5个元件,5个元件串联一起组成一组。试验过程中的开通关断以及恒流是通过大功率电子负载实现。相比直接的电子开关控制开通关断,电子负载可以实现更精确的恒流。更快速的开通及关断。
②被测试元件分别固定在水冷板上。
③每个元件的Vge电源采用隔离电源,输出电压程控产生。定期测试Ige电流。
④通过实时监测IH加热电流,和VCE变化来判断射极引线是否脱落。如果IH电流突然变为0,则可认为是射极引线脱落或材料开路,如果VCE变化越来越大,则可以认为部分射极引线脱落,或者是焊接不良或其它芯片原因,则设备停机报警
⑤定期检测每只IGBT栅极引线是否脱落,判断方法如下:使用IM小电流测试VCE, 如果VCE处于饱和压降范围内,则认为栅极引线脱落。
监控参数试验电流IH、栅极电流Ige、栅极电压Vge、集射极饱和压降Vces、结到壳热阻值Rth、高低结温差值(Delta Tj)、壳温及液冷平台进出水口温度、器件的压力F(压接型器件)、通断时间、试验周期数等。
数据记录试验全程记录每个试验通道的ICE、VCE@IH、VCE@IM、IGE、VGE、RthJc、F、ON\OFFTime、循环数,Delta Tj、Tjmax、Tjmin等参数。液冷平台的进出水口温度,制次机的水温,器件的壳温等。。可记录数≥1000000次。
计算机工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面,友好的人机对话窗口, 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择,软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能, 试验状况一目了然,方便用户随时查验。
电网要求三相AC380V±10%,47Hz~63Hz,90KW
外形尺寸W2480mmхH1820mmхD1320mm
重量约1200kg



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