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SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000

简要描述:SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000功能及主要参数:
  适用碳化硅二极管、IGBT模块MOS管等器件的时间参数测试。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-04-27
  • 访  问  量:76

详细介绍

品牌其他品牌应用领域能源,电子,汽车,电气

SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000

  • 品牌: 华科智源

  • 名称: SIC动态参数测试仪

  • 型号: HUSTEC-3000

  • 用途: SIC器件,MOS管, IGBT测试

功能及主要参数:
  适用碳化硅二极管、IGBT模块\MOS管等器件的时间参数测试。
  主要技术参数:
  IGBT开关特性测试
  开关时间测试条件
  Ic:50A~1000A     Vce:200V~2000V
  Vgs:-10V~+20V  Rg:1R~100R可调(可选择4档及外接)
  负  载:感性负载阻性负载可切换
  电感范围:100uH,200uH,500uH,1000uH
  电阻范围:0.5R、1R、2R、4R
  

QQ截图20230427144852.png


SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000参数
  开通延迟td(on): 20nS -10uS     
  上升时间tr:    20nS -10uS
  开通能量Eon:  0.1-1000mJ                
  关断延迟时间td(off):20 nS -10uS  
  下降时间 tf: 20nS -10uS                   
  关断能量Eoff:0.1-1000mJ
  二极管反向恢复特性测试
  FRD测试条件:正向电流IF:50A~1000A;反向电压 Vr:200V~2000V;-di/dt:100A/us~10000A/us ;负载:感性负载可选
  电感范围:100uH,200uH,500uH,1000uH
  FRD测试参数
  反向恢复时间trr:20nS -2uS
  反向恢复电荷Qc:10nC~10uC;
  反向恢复电流Irm:50A~1000A
  反向恢复损耗Erec:0.1mJ~1000mJ
产品优势
  国内能对二极管、IGBT模块、MOS管等器件的时间参数实施测试的设备。

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