是德2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统，开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley 高功率参数化波形记录器系列的配置支持所有的设备类型和测试参数。

Keysight是德科技B1500A半导体器件分析仪是精密电流-电压分析仪系列的一款一体化分析仪，支持 IV、CV、脉冲/动态 IV 等功能，专为从基础到应用的表征而设计。它提供广泛的测量功能，涵盖器件、材料、半导体、有源/无源元件或几乎任何其他类型的电子设备的电气特性和评估，具有测量可靠性和效率。

QTJ8600T功率半导体器件测试机功率半导体器件测试机 实现全自动化测试过程，满足不同器件测试对测试机的要求。 本产品为IGBT、SiC等功率半导体器件提供全套功率测试解决方案，可高效实现从晶圆级到最终产品的ISO、DC、AC等全套测试，实现全自动化测试过程，并配置丰富的测试接口和功能模块选择，满足不同器件测试对测试机的要求。

ENJ2005-C半导体功率器件图示系统是一款很具有代表性的新型半导体功率器件图示系统，系统IV曲线自动生成，也可根据实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。

Flex10K-L国产高通道LCD Driver测试机主要应用于各类显示驱动芯片测试，整机包含MF机柜和TH机头，TH最高支持31槽位，支持DFB、LPB、LPP、RVS、CBIT、HSIF等资源板卡。该系统采用优良的设计架构，具有良好的测试性能和量产测试能力，可以有效地降低高分辨率屏显驱动芯片的测试成本。

ST2500EX高性能数模混合信号测试机，支持1024数字通道配置。该系统硬件结构采用Direct Docking连接方式，可以兼容J Type针卡，降低客户转平台治具成本。ST2500EX还具有灵活的可扩展性，可搭载无线综测仪、RF测试模块及各类高性价比解决方案。

ST2500E高密度数模混合信号测试机广泛应用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。

ENJ2005-A半导体分立器件测试系统采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS。在PC窗口提示下输 入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。被测器件引脚接触自动判断功能。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装，自动补偿由于系统内部及测试电 缆长度引起的压降，保证测试结果准确可靠。