ST2500E高密度数模混合信号测试机

ST2500E高密度数模混合信号测试机

ST2500E是高密度数模混合信号测试系统，该系统一个机箱最高支持16块板卡，IO通道数最高支持512通道。槽位兼容ST2500的功能板卡。同时该系统拥有250Mbps的测试速率，具有很高的成本优势。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如SMU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等测试模块。

应用场景

ST2500E高密度数模混合信号测试系统可以广泛应用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。

目标器件

• SOC/MCU

• FLASH

• EEPROM

• CIS/指纹芯片

• Bluetooth/WiFi

• LED Driver

• FPGA

• Sensor

ST2500E高密度数模混合信号测试机

产品优势

• 一个机头最高支持16块业务板，512通道数字I/O，512通道PPMU，64通道DPS

• 系统支持多机头级联，多机头级联最高支持2048通道

• 系统集成的ST-IDE软件提供用户友好的开发环境，丰富的开发和调试工具，方便客户进行测试程序快速调试

• 配套丰富的pattern转换工具，方便WGL、STIL、VCD等仿真文件转换为测试机pattern，同时支持友商平台pattern 转换，有效提高调试效率

• 针对工厂量产提供专门GUI，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统

• 智能软硬件维护系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置