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产品分类
Product Category详细介绍
| 品牌 | KEYSIGHT/美国是德 |
|---|
是德2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统产品简介
是德2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统
开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley 高功率参数化波形记录器系列的配置支持所有的设备类型和测试参数。
典型配置：
Model 2657A High Power System SourceMeter SMU
Model 2636B SourceMeter SMU Instrument
Model 2651A High Power System SourceMeter SMU
产品特性
完善的解决方案，价格实惠且性能优异
可现场升级和重新配置，将PCT 转换成可靠性或晶片分类测试仪
可配置功率电平：
Ø 200V 至 3kV
Ø 1A 至 100A
宽动态范围：
Ø µV 至 3kV
Ø fA 至 100A
全量程容-电压 (C-V) 能力：
Ø fF 至 µF
Ø 支持2、3 和 4 端器件
Ø 高达3kV DC 偏移
高性能测试夹具支持一系列软件包类型
探头测试台接口支持最常见的探头类型，包括HV 同轴三线电缆、SHV 同轴电缆、标准同轴三线电缆等
产品应用
MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件开发应用
规格参数
型号 | 说明 | 高压模式 | 大电流模式 |
2600-PCT-1B | 低功率 | 200 V/10 A | 200 V/10 A |
2600-PCT-2B | 高电流 | 200 V/10 A | 40 V/50 A |
2600-PCT-3B | 高压 | 3 kV/120 mA | 200 V/10 A |
2600-PCT-4B | 高电流和高电压 | 3 kV/120 mA | 40 V/50 A |
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