致茂Chroma Model11090-030射频LCR表测试仪

致茂Chroma Model11090-030射频LCR表测试仪产品特色

●测试参数:Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs,Rp, D,Q

●测试频率:100kHz~300MHz

●量测范围:100mΩ~5kΩ

●量测速度:0.5/0.9/2.1/3.7(ms)

●基本准确度:±0.8% % (typical ±0.45%)

●测试输出能量:-40~1(dBm)

●量测模式:单点(Point)/多点(List)

●测试讯号(Vm,lm)监测功能

●比较与分类(13bins)选别功能

●接触检查(Rdc 0.1Ω~100Ω @ 1mA max)

●开短路校正与载入补偿功能

●标准介面: Handler、RS-232C、GPIB、LAN、USB(A& B type)

致茂Chroma Model11090-030射频LCR表测试仪特点

●宽的测试频率:100kHz~300MHz

●快速的测试速度:0.5ms/point

●多样性的功能

●校正/补偿状态指引

●提供磁性元件以Rdc为接触检查

●多参数比较与分类功能

●0~401点多点测试与曲线绘图功能

●清晰与引导式操作

●操作快速的SMD测试治具

应用领域

SMD电感(压模电感/积层电感/磁珠等)

EMI共模线圈

其他被动元件

高达300MHz的测试频率

高频小型化的功率电感多为金属压模式电感，但①原始磁材不良(金属颗粒大/铁氧层不良)或②层间耐压测试后局部铁氧层破坏或③线圈漆包破损与磁材直接接触都会造成Q值降低，在后续使用容易过热。要检出此三类异常，以一般感量之标称频率测试状态，因电感阻抗状态低，Q值多被探针接触电阻所左右。

故提高测试频率进而提高感抗以降低探针接触电阻之影响，可提升磁材异常与线材绝缘异常的检出率，此方法广为业界所采用。

导磁金属粉末表面大都处理氧化层来降低高频交流带来的涡流损失来提高可使用频域，降低损失及温升，但一般用户是无法从外观知道磁材的颗粒大小与经过压模烧结后氧化层是否完好，但透过高频测试则容易判别。

电感在高频的等效电路与Ls与Q的关系式如(图一)，一般业界虽以接近电感自振频率(SRF)之Ls在检测前述品质异常，实质上是在检测其Q值是否低下，但可避开接触电阻影响。一般正常品在SRF附近Ls因寄生容量关系较高，异常品则受损失过大所累Q值低下，表象Ls也偏低。 Chroma11090-030 100kHz~300MHz测试频域满足标称Ls/Q与高频Ls@HF的双重测试需求，可满足此类电感在生产的使用需求，另外在其RD与品保或电感使用者都很适用。

▲ (图一) 电感在高频的等效电路与Ls与Q的关系式

▲ (图二) 取样品实测两个曲线说明

阻抗量测与准确度

Chroma 11090-030采用RF-IV测量方法量测待测物(DUT)的电压和电流，与一般网络分析仪相比较，此仪器能够在较宽的阻抗范围(100mΩ~5kΩ)内进行更准确的测量，其优势在于可测量的电感值非常小，约为数个nH。此外，11090-030具备100kHz~300MHz的宽范围测试频率，若被测物的测试有数百kHz以及高频数MHz双频以上需求时，生产测试仪器则不用分两台或两站进行测试，故能降低仪器成本。

▲ 量测时间Slow, 测试讯号 1dBm, 平均次数≧8, at 23℃

註1. Avg = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

註2. Freq = 100 MHz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

註3. Freq = 1 MHz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

特色功能

校正/补偿指引功能

射频LCR测量非常依赖正确的校正(OPEN/SHORT/LOAD)，过程错误或漏掉某一项则很容易造成错误的结果。 11090-030具有向导功能的校正/补偿方法能消除繁琐的校正/补偿程序之错误，让用户具有引导式校正程序，降低漏掉项目的风险、并且有图示指引降低取错标准件的错误，对于已完成校正程序者，测试画面也有对应的显示。

▲ 校正/补偿程序设定

▲ 校正程序设定

▲ 补偿程序设定

提供磁性元件以Rdc为接触检查

射频LCR表对应之SMD元件一般尺寸都很小，在对应测试治具或自动化测试之接触好坏皆很难直观确认。 11090-030提供磁性元件以Rdc为接触检查功能，由于Rdc为一无需校正之参数，而且在磁性元件(电感、EMI Filter、bead)之接触确认最为直接，此功能协助生产线中的测试达到更精准的分拣错误，提高不良品分类的准确性和效率。

多参数比较与分类功能

射频测试在不同频域的良品或不良品判定可能因其参数不同，使用绝对值或百分比不同、注重之主副参数不同、高低判定方式也不同。 Chroma 11090-030提供非常具弹性的表列式，且最多达13 bins，每个bin有四个限制值。频率和测量参数等条件可以在每列中独立设置，使11090-030能够满足多样性的分选需求，包括不同测量频率下的不同参数。

~401点之多点测试与曲线绘图功能

RF元件常需跨多频域分析其参数频响变化，11090-030多点量测功能可设定最多401点，提供用户更详细且精准的量测数值，同时可以选择多点列表与特性曲线绘制提供生产测试或分析人员快速了解元件频率特性。

▲ 多点列表

▲ 多参数曲线同时绘图

▲ 单一参数曲线绘图

清晰与引导式操作

采用触控、全彩、高分辨率液晶显示，同时清晰显示多参数测试结果与设定状态及比较或分选结果或与参考值的差异，并且以简洁的图标指示仪器状况与指引快速操作，替用户提供更直观操作及更完整的资讯。

操作快速的SMD测试治具

SMD尺寸细微且多元，需要极度精密的特殊材料提供限位，但若更换尺寸皆需重新组装限位垫片，不仅耗时且容易损耗昂贵的组件与限位垫片。符合多种小型的SMD测试治具，采用改进的下压方式，可旋转90度并只需要三个步骤来更换被测物(实际测试约40秒)，能替用户减少更换被测物时间、加快测试速度、免除反覆拆装限位垫片，进而减少损耗与维护费用。

标准的传输接口

11090-030拥有完整的接口配置，其中包含了设定量测条件、触发量测动作、判定量测结果与搜集量测数据的通信接口，更包括LAN、GPIB、USB(B-Type)、RS- 232接口与储存接口USB(A-Type)，以及可藉由Handler接口触发量测并将此判断结果传送至外部。

面板说明

▲ 注：USB接头连接不可用于『行动电源充电』、『手机充电』或是『电流需求超过0.5A』的连接设备。