您好!欢迎访问深圳市新玛科技有限公司网站!
全国服务咨询热线:

13266639695

Products产品中心
首页 > 产品中心 > 半导体C-V特性分析仪 > 半导体参数测试系统 > 功率半导体动态参数测试系统

功率半导体动态参数测试系统

简要描述:KC3120功率半导体动态参数测试系统可针对各类型 GaN、Si基及SiC基二极管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各项动态参数测试,如开通时间、关断时间、上升时间、下降时间、导通延迟时间、关断延迟时间、开通损耗。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2025-05-07
  • 访  问  量:29

详细介绍

品牌其他品牌

产品详情

功率半导体动态参数测试系统

型      号:KC3120

功能简介:KC3120功率半导体动态参数测试系统可针对各类型 GaN、Si基及SiC基二极管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各项动态参数测试,如开通时间、关断时间、上升时间、下降时间、导通延迟时间、关断延迟时间、开通损耗、...

设备简介

KC3120功率半导体动态参数测试系统可针对各类型 GaN、Si基及SiC基二极管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各项动态参数测试,如开通时间、关断时间、上升时间、下降时间、导通延迟时间、关断延迟时间、开通损耗、关断损耗、栅极总电荷、栅源充电电量、平台电压、反向恢复时间、反向恢复充电电量、反向恢复电流、反向恢复损耗、反向恢复电流变化率、反向恢复电压变化率、输入电容、输出电容、反向转移电容、短路。

通过更换不同的测试单元以达到对应测试内容,通过软件切换可以选择测试单元、测试项目及配置测试参数、 读取保存测试结果。

参考标准

IEC 60747-8/9 半导体分立器件第8/9部分/JEDEC标准

设备特点

KC-3120系 统 包 含 : 硬 件 平 台 + 实 时 软 件 , 其 中 硬 件 平 台 包含 : 信号源(模块)、FTP低压电源、FTP高压电源、示波器、测量采集控制模块、测试夹具(可加热)等,主要特点如下:

高灵活度:多种驱动板配置,覆盖高压/中压/低压器件测试和雪崩测试(可选);

高精度测试:高共模仰制比的高压差分光隔离探头(可选)满足SiC/GaN半导体器件更高母线电压和更快开关时间的测量挑战要求;低回路电感设计(<5OnH寄生电感);

高效率:可进行开关参数/动态栅极电荷/动态导通电阻/短路/雪崩测试,单次测试即可完成开关特性和反向恢复特性测试;

具备数据管理功能,上位机可实现数据曲线、报告及自动保存;

保护功能:具备器件防呆,对于带电、高温开箱、测试参数异常、驱动电路异常可实现保护功能,

内部模块化设计,支持支持扩展外接标准仪表,客制化;

软件系统



技术参数

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
扫一扫,关注微信

版权所有 © 2025 深圳市新玛科技有限公司(www.sinmary.cn) All Rights Reserved    备案号:粤ICP备12033067号    sitemap.xml    管理登陆    技术支持:化工仪器网