ST2500E高密度数模混合信号测试机广泛应用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。

ST2500A高性能数模混合信号测试系统是基于ST2500系列产品扩展的一套不仅能够实现数字信号测试，同时还能满足了模拟测试需求的测试系统。该系统具有丰富的板卡资源(DFB32、FOVI50、OTMU、CBIT、SMU20)，可以满足各类数模混合高并行测试需求。

ST2516高性能数字混合信号测试系统，可以实现32~320个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如SMU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等测试模块。

ST2564高性能数字混合信号测试系统可以广泛应用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指纹芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。

eATE数模混合信号测试系统是加速科技新推出的一款集成数字集成电路测试功能的紧凑型可移动测试系统。系统支持50Mbps数据速率;业务功能板卡采用all-in-one设计模式，功能集成度高，体积小巧、简洁轻便，性价比高，是小型芯片验证的选择。

ST7008无线综合测试仪能够支持Sub-6GHz多域并行测试，具有信号发送功能，能够实现频率、解调特性及频谱特性等测试，对未来无线测试标准有优异的扩充性。

EN-3020B分立器件参数测试仪采用上位计算机控制，集点测试和曲线扫描为一体，可实现点参数测试和图示仪功能。软件操作界面友好智能，在 PC 窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。操作软件采用填入式编程方法，专为国内用户开发。

ENJ2005-A半导体分立器件测试系统采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS。在PC窗口提示下输 入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。被测器件引脚接触自动判断功能。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装，自动补偿由于系统内部及测试电 缆长度引起的压降，保证测试结果准确可靠。