ST2516高性能数字混合信号测试系统

ST2516高性能数字混合信号测试系统

ST2500是高效率系列数模混合信号测试系统，该系列依据系统资源配置又分ST2516和ST2532两款产品，可以实现32~320个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如SMU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等测试模块。

应用场景

ST2500系列数模混合信号测试系统可以广泛应用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指纹芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。

目标器件

• MCU

• SOC

• FLASH

• EEPROM

• CIS/指纹芯片

• LDO/PMIC

• CPLD/FPGA

• Audio

产品关键特性

• 支持多机头级联，单机头可实现32-320通道，级连最高可实现1280通道，根据客户产品需求，实现最高机器利用率

• 系统支持250Mbps线缆连接模式，极大节省系统成本

• 系统集成的ST-IDE软件提供用户友好的开发环境，丰富的开发和调试工具，方便客户进行测试程序快速调试

• 配套丰富的pattern转换工具，方便WGL、STIL、VCD等仿真文件转换为测试机pattern，同时支持友商平台pattern转换，有效提高调试效率

• 针对工厂量产提供专门GU1，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统

• 智能软硬件监控系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置

系统配置

根据测试资源要求，通过模块扩展，可以满足资源场景配置。

ST2516高性能数字混合信号测试系统

160数字通道，160PPMU通道，20DPS

ST2532

320数字通道，320PPMU通道，40DPS

ST2564

320数字通道，320PPMU通道，40DPS