DEKTAK XT布鲁克台阶仪/表面轮廓仪台阶仪主要用于材料表面的2D，3D测量，可以测试台阶高度，表面粗糙度；同时也适合材料表面沟槽深度的测试；能够在微电子，半导体及化合物半导体，太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、OLED、ITO、微流控、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。Dektak台阶仪测量薄膜材料可以达到埃级重现性和1nm-1mm的测量范围。