自动光谱椭偏仪SENDUROSENDURO® 可测量透明和反射基片上单层薄膜和层叠膜的折射率和厚度。SENDURO® 自动扫描则实现了较高的样品速度，化安装工作量和低的维护成本。该光谱椭偏仪的自动扫描具有预定义或用户定义的模式、允许广泛的统计特性和数据图形显示。

安科瑞泰SENDIRA红外光谱椭偏仪椭偏振动光谱 利用红外光谱中分子振动模的吸收带，可以分析薄膜的组成。此外，载流子浓度可以用傅立叶红外光谱仪FTIR测量。

安科瑞泰SENpro光谱椭偏仪光谱椭偏仪SENpro具有操作简单，测量速度快，能对不同入射角的椭偏测量数据进行组合分析等特点。光谱范围为370到1050 nm。SENpro的光谱范围与精密的SpectraRay/4软件相结合，可以轻易地确定单层膜和复合层叠膜的厚度和折射率。

安科瑞泰SENresearch 4.0光谱椭偏仪 SENresearch 4.0 光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm（深紫外）到3500 nm（近红外）。傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200μm的厚膜。

布鲁克S8 TIGER Series 2 X射线荧光光谱仪无论是固体还是液体样品，在工业环境中都能快速，符合人体工程学的安全处理样品。

布鲁克HD9800工业光学显微镜HD9800是专门用于硬盘行业磁头滑块测量的*的光学轮廓仪，用于对CCT和PTR的高速自动测量，监控其复杂的加工工艺是否正常。

布鲁克ContourSP三维工业光学显微镜ContourSP大面板计量系统拥有十多年的包装计量专业知识，是上一代SP型号的高密度互连PCB（HDI-PCB）基板的测量吞吐量的两倍以上。ContourSP专为在制造过程中测量PCB板的每一层而设计，并具有许多*功能，可为半导体封装行业提供高的生产性能，便利性，可靠性和吞吐量。

布鲁克Contour Elite X 工业光学显微镜大样本的Contour Elite X 3D光学轮廓仪将的测量功能与业界大视野和高保真彩色或单色成像上的垂直分辨率结合在一起。没有其他度量衡系统可以提供非接触式精度，吞吐量，操作员便利性和成像功能来解决如此广泛的生产度量衡应用。