XD-1000光谱分析仪是一款全元素上照式荧光光谱仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件 的膜厚，可选配自动平台实现 XYZ 轴编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入先进 的 EFP 算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。

XAU荧光光谱分析仪XAU 是一款一机多用型光谱仪，应用了先进的 EFP 算法和微光聚集技术，既保留了专用 测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足成分分析。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

爱丁堡RM5拉曼显微镜RM5是一款紧凑的全自动拉曼显微镜，用于分析和研究目的。RM5真正的共焦设计在市场上并提供了光谱分辨率，空间分辨率和灵敏度。

爱丁堡RMS1000拉曼显微镜真正的共聚焦–多位置针孔，可实现高空间分辨率，荧光和背景抑制以及应用优化 五位置光栅转塔–小于0.1 cm-1的光谱分辨率和5 cm-1 – 30,000 cm-1的覆盖范围 两种光谱仪选件–标准紧凑型和长焦距光谱仪可提供最终分辨率，灵敏度和杂散光抑制

奥林巴斯OLS5100-LAF激光共焦显微镜配备10.1 英寸TFT-LCD 大显示屏，分辨率1024*600； · 电容式触摸屏，专门为示波器操作定义的各种手势，极大地提高了仪器操控效率； · 内嵌WebServer，可直接通过网页远程访问和操作示波器； · 支持鼠标和键盘操作

奥林巴斯OLS5100-SAF激光共焦显微镜适用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光显微镜将测量精度和光学性能与智能工具相结合，让显微镜更加方便使用。通过快速高效精确测量亚微米级形状和表面粗糙度的可靠数据简化您的工作流程

欧林巴斯OLS5100 3D激光扫描显微镜适用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光显微镜将测量精度和光学性能与智能工具相结合，让显微镜更加方便使用。通过快速高效精确测量亚微米级形状和表面粗糙度的可靠数据简化您的工作流程。

自动光谱椭偏仪SENDUROSENDURO® 可测量透明和反射基片上单层薄膜和层叠膜的折射率和厚度。SENDURO® 自动扫描则实现了较高的样品速度，化安装工作量和低的维护成本。该光谱椭偏仪的自动扫描具有预定义或用户定义的模式、允许广泛的统计特性和数据图形显示。