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日本电子JEM-F200透射电子显微镜

简要描述:日本电子JEM-F200透射电子显微镜
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2025-04-23
  • 访  问  量:69

详细介绍

品牌其他品牌产地类别进口
应用领域能源,电子/电池,电气
日本电子JEM-F200透射电子显微镜

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

日本电子JEM-F200透射电子显微镜

日本电子JEM-F200透射电子显微镜

主要特点                                                                                                                                      

外观设计精炼

 精炼的外型,全新的视觉感受。

为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。

JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现,与旧机型相比,电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。


四级聚光镜系统

现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术  —  从明场 / 暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。

该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统 —  “Quad-Lens condenser system",通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。


扫描系统

JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统 — “Advanced Scan System" 即成像系统的电子束扫描功能(选配)。


皮米样品台驱动

JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野,从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。


SpecPorter(自动插入和拔出样品杆的装置)

对电镜初学者来说,进出样品杆一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter使这一操作变得简单:将样品杆安装在的位置上,只用一个按钮即能安全地插入或拔出。


改进的冷场发射电子枪

JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪(选配),该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析,高亮度的电子束缩短了分析时间,并且还降低了来自光源的色差,实现了高分辨率的观察。


双能谱(SDD)

JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器(SDD)(选配件)。 凭借更高的灵敏度,EDS分析速度更快,对样品的损伤更小。


环保节能

JEM-F200是第一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。

ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5,可以在装置不运行时,以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。

该设备具有排程功能,能在的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。


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