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STS8300模拟/混合IC测试系统产品特点
- “All-in-One", 所有模拟,数字资源装于测试头中;
- 针对高管脚数的模拟、混合信号及电源管理类器件进行多工位并行测试;
- 高模拟VI源/表通道能力,最多可支持500多个VI通道
- 高数字通道能力,128/256路数字通道 (用户界面定义不同)
- 提供HardDocking的测试方案
- 提供与STS8200的Load Board兼容方案,并有程序转换软件工具
STS8300模拟/混合IC测试系统主要性能指标
资源 | 主要性能指标 |
FPVIe | 2通道浮动V/I源,每通道±100V/±200mA直流,±40V/±10A脉冲,4Kx16-Bit AWG,1MSPS 4Kx16-Bit 电压和电流 Digitizer |
FOVIe | 8通道,每4路一组浮动V/I源,每通道±40V/±100mA直流,±1A脉冲,4Kx16-Bit AWG,200kSPS4Kx16-Bit电压和电流Digitizer |
ACM | 24通道,每6路一组V/1源,每通道-2-+18V/±200mA直流,±500mA脉冲,4Kx16-Bit AWG,200kSPS 4Kx16-Bit 电压和电流Digitizer |
HVIe | 单通道浮动V/I源,扇出2通道,1000V/±10mA,8Kx16-BitAWG,200kSPS 8Kx16Bit 电压和电流 Digitizer |
QVMe | 4通道全浮动差分电压表模块每通道具备18-Bit1MSPS及12-Bit10MSPS Digitizer总失真度测量水平-90dB典型值每通道存储深度64K |
QTMUe | 4通道时间测量模块最大±50V电压量程最大5ns-40s时间量程最高分辨率<30ps最高精度2nS+0.1%Rdg带宽>50MHz每通道存储深度64K |
DCM | 每模块64通道每通道-1.5V-6V数字输入/输出最大测试速率33MHz(50MHz clock)每通道向量存储器深度64M每通道PMU 功能,支持FVMV,FVMI,FIMV,FIMI模式,电流范围±32mA每通道TMU功能(研发中) |
CBITe | 每模块128位控制位提供+5V、+12V继电器电源 |
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