SoC/Analog 测试系统 3650

SoC/Analog 测试系统 3650产品特色

●50/100 MHz时钟速率

100 /200 Mbps(多路复用)数据速率

●多达640个数字I/O引脚(测试头2)32 M矢量存储器

●32 M模式指令存储器每引脚PPMU/频率测量

●每个扫描链扫描特征至2G深度记忆测试的ALPG选项多达40个高压I/O引脚

●8-32个16位ADDA通道选项32个高性能DPS通道边缘放置精度:300ps

●32通道HDADDA混合信号选项

●8通道AWG和数字化仪ASO混合信号音频频段测试选项最大值HVVI模拟选项为3000V(堆叠式)

●最大值MPVI模拟选项的320A脉冲模式(联动) VI45模拟选件每板32通道 PVI100模拟选件每板8通道

●微软视窗软件®7 / Windows®10 C++和GUI编程接口

●简洁的全套直观软件工具

●其他平台的测试程序和模式转换器

●通过添加转换套件，接受其他测试仪的DIB和探针卡支持STDF数据输出

●气冷式，体积小

半导体制造业是一个快速发展的行业。随着设备变得越来越集成化和多功能化，资本设备必须能够经受几代设备和应用的考验。Chroma 3650提供一系列可用选项，如AD-DA转换器测试、用于内存测试的ALPG、高压PE、多扫描链测试、VI45、PVI100&MPVI模拟测试以及ASO & HDADDA混合信号测试，为许多设备类型提供广泛的覆盖范围和灵活的配置。

Chroma 3650是一款具有高吞吐量和高并行测试能力的SoC测试系统，为无晶圆厂、IDM和测试机构提供具有成本效益的解决方案。凭借全面的测试功能、高精度、强大的软件工具和出色的可靠性，Chroma 3650是所有高性能微控制器、模拟IC、消费类SoC器件和晶圆分类应用的测试解决方案。

低成本生产系统中的高性能

Chroma 3650降低了测试成本，不仅降低了整个系统的成本，还提供了更高的吞吐量和增强的并行测试能力。3650配备了Chroma*的PINF IC和复杂的校准系统，可在550ps内提供良好的计时精度。3650的模式发生器具有高达32M的模式指令存储器。这种广泛的存储器深度与向量存储器的深度相匹配，允许为每个测试向量添加模式指令。

该系统强大的顺序模式生成器提供了各种模式命令，以满足复杂测试向量的需求。真正的每引脚测试架构和无插槽边界的灵活站点映射是为高吞吐量的多站点测试而设计的。凭借多达640个数字引脚、32个设备电源、每引脚PMU和模拟测试功能，3650在一个经济高效的测试解决方案中提供了出色的测试性能和吞吐量。

高并行测试能力

3650功能强大、用途广泛的平行引脚电子器件擅长在多个引脚上同时执行相同的参数测试。每个LPC板内置64个数字引脚，由16个高性能色度引脚IC驱动，每个引脚支持4个时序发生器通道。集成的本地控制器电路简化了资源管理和结果读出，最大限度地减少了系统控制器的开销。凭借其灵活的任意引脚到任意站点的映射设计，3650可在多达32个站点上进行高通量并行测试，从而优化大规模生产效率并简化布局。

灵活性

半导体行业是一个快速发展的行业，资本设备必须比几代设备和应用更长寿。凭借广泛的可用选项，如AD-DA转换器测试、用于内存测试的ALPG、高压PE、多扫描链测试和VI45 &PVI100 & MPVI模拟选项，Chroma 3650确保它将在未来几年为您服务。

此外，Chroma 3650的平台架构允许第三方供应商开发专门的仪器，可以轻松添加到特定的应用中。在低成本生产测试系统中，它可以覆盖比以往任何时候都更广泛的设备，从而扩展测试的范围。

占地面积小

3650采用风冷、紧凑的测试头中测试器设计，在高度集成的封装中提供出色的通量，占用最小的占地面积。主机柜容纳配电装置，并为第三方仪器提供空间。通过可选的机械手，3650可用于封装和晶圆测试。

强大的软件工具套件-CRISP

3650配备了强大的Chroma集成软件平台(CRISP ),为快速测试开发、调试、生产和数据分析提供了全面的工具套件。CRISP将测试开发、执行控制、数据分析和测试人员管理的功能集成到一个单一的平台中。CRISP构建于Microsoft Windows操作系统之上，利用C++，为所有测试需求提供了一个强大、直观、快速运行的图形用户界面(GUI)。在 Project IDE工具中，测试开发人员可以轻松地在标准模板、用户定义的模板和基于C++代码的编辑器之间切换，从而快速创建可以自动扩展到多站点并行测试的测试程序。 CRISP还包括测试程序和测试模式转换器，便于将测试程序从其他平台移植到3650。

对于测试程序执行，用户可以在用于正常操作的系统控制工具和用于调试模式的计划调试器工具之间进行选择。计划调试器工具提供诸如断点、步进、步入、单步执行、暂停和恢复、变量监视、变量修改等设置，从而能够对测试程序进行精确控制。CRISP还提供了一套丰富的调试和数据分析工具。数据记录，波形和示波器工具支持测量数据和数字波形的显示。SHMOO和引脚余量工具支持通过自动和手动模式轻松调试参数余量。晶圆图、摘要、直方图和STDF工具对于收集和分析测试结果和参数表征是非常宝贵的。

对于运行时调试，测试条件监视器和模式编辑器提供了高级功能，使用户能够在不中断测试或修改源文件的情况下更改测试条件或模式数据。CRISP还包括用于模拟和ALPG选项的ADDA工具和位图工具，允许用户可视化AD-DA测试结果并轻松创建ADC模式。这套全面的GUI工具旨在满足测试调试和报告的不同需求。

OCI工具是CRISP的大规模生产解决方案。这种用户友好的界面简化了生产人员的操作，并最大限度地减少了人为错误。使用生产设置工具根据生产环境的特定要求定制OCI工具后，操作人员只需选择预先计划的流程，即可开始生产运行。

SoC/Analog 测试系统 3650外围设备

3650通过GPIB和TTL接口提供了与处理器和探头的广泛兼容性。它支持来自SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK和OPUS II等制造商的各种行业标准设备。除了为测试平台迁移提供方便的转换器工具外，3650还提供适配器板解决方案，允许它与现有的测试平台接口。这使得3650能够直接接受来自其他测试仪的DIB和探针卡，消除了开发新负载板和探针卡的成本。

应用支持

Chroma提供全面的应用支持，满足新老客户的需求。无论您是希望通过创新战略加快生产速度、利用新兴市场机会、提高生产率还是降低测试成本，我们的全球客户支持团队都致力于根据您的特别需求提供及时有效的解决方案。