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SigOFIT光隔离探头MOIP350P

简要描述:SigOFIT光隔离探头MOIP350P 基于 SigOFIT™ 技术的光隔离探头,拥有高的

共模抑制比和隔离电压,在其带宽范围内洞见信号的

全部真相,是判定其他电压探头所测信号真实性.

  • 产品型号:Micsig
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-01-29
  • 访  问  量:929

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详细介绍

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SigOFIT光隔离探头MOIP350P

洞见信号的全部真相

基于SigOFIT™ 技术的光隔离探头,拥有高的

共模抑制比和隔离电压,在其带宽范围内洞见信号的

全部真相,是判定其他电压探头所测信号真实性的裁判。

带宽:DC-1GHz          共模电压: 60kVpk  

直流增益精度:1%      共模抑制比:高达160dB


光隔离探头

最真实的信号呈现

SigOFIT光隔离探头具有高的共模抑制比,在100MHz时CMRR高达112dB、在500MHz时CMRR仍然高达100dB,是判定其他电压探头所测信号真实性的裁判。

光隔离探头

SigOFIT光隔离探头MOIP350P测试精度

作为判定其他电压探头所测信号真实性的裁判,测试精度是SigOFIT光隔离探头的重要指标。SigOFIT光隔离探头,具有幅频特性,直流增益精度优于1%,全量程范围内最大1.41mVrms底噪,预热后零点漂移小于500μV。 

光隔离探头

第三代半导体的最佳测试手段

第三代半导体器件由于导通与关断时间很短,信号具有更快的上升沿和下降沿,信号中具有很高能量的高频谐波,SigOFIT光隔离探头在最高带宽时,仍然具有近100dB的共模抑制比,可以近乎地抑制高频共模噪声所产生的震荡,所呈现的信号没有额外多余成分,是第三代半导体测试

光隔离探头

测试氮化镓(GaN)不炸管

SigOFIT光隔离探头测试引线短且采用同轴传输,探头输入电容小于3pF,测试氮化镓(GaN)十分安全。

麦科信光隔离探头

使用灵活

SigOFIT光隔离探头比传统高压差分探头体积更小,探头引线更精巧,使用更加灵活方便。

光隔离探头OP

测试量程更宽

不同于高压差分探头只可以测试高压信号,SigOFIT光隔离探头通过匹配不同的衰减器,可以测试±1.25V至±2500V的差模信号,并实现满量程输出,达到很高的信噪比。

光隔离探头

高效便捷

SigOFIT光隔离探头响应快,上电即测,校准时间小于1秒,可实时保证精确的信号输出。

光隔离探头

应用场景

对其他电压探头所测结果准确性、真实性存在质疑时,SigOFIT光隔离探头可作为最终裁判依据。

电源设备评估、电流并联测量、EMI 和 ESD 故障排除

电机驱动设计、功率转换器设计 、电子镇流器设计

氮化镓、碳化硅、IGBT半/全桥设备的设计与分析

高压高带宽测试应用的安全隔离测试

逆变器、UPS及开关电源的测试

宽电压、宽带测试应用

各种浮地测试




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