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奥林巴斯OmniScan X3 64便携式探伤仪

简要描述:奥林巴斯OmniScan X3 64便携式探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。 您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-02-22
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品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域能源,电子,交通,汽车,电气

奥林巴斯OmniScan X3 64便携式探伤仪

威力强大,小巧便携

OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。 您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。

提供创新型TFM功能的OmniScan X3相控阵探伤仪
信心满满,昭然可见

OmniScan X3相控阵探伤仪是一个完备的相控阵工具箱。 其性能强大的工具,包括全聚焦方式(TFM)成像和高级可视化能力,在其高质量成像功能的支持下,可使您更加充满信心地完成检测。


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奥林巴斯OmniScan X3 64便携式探伤仪

提前确认TFM(全聚焦方式)声波覆盖范围

声学影响图(AIM)工具可以基于您的TFM(全聚焦方式)模式、探头、设置和模拟反射体,即时提供灵敏度的可视化模型。

声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某个声波组(TFM模式)的效果图,使您看到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行相应的调整。

QQ截图20230222113410.png

用PCI查看您错过了什么

我们创新性的无振幅实时相位相干成像(PCI)提高了对小缺陷的灵敏度和在噪声材料中的穿透力,同时简化了设置和尺寸调整。从MXU 5.10开始,可用于OmniScan X3 64探伤仪。

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