蔡司Versa X射线显微镜

体验ZEISS Versa X射线显微镜(XRM)的强大功能，它是研究人员和科学家的选择。蔡司Versa X射线显微镜具有直观的用户界面，确保每个用户都能提高工作效率并获得优异的结果。VersaXRM在实际设置中优先考虑真正的分辨率，为您提供清晰观察甚至最小细节的能力。蔡司以其稳定性和精确度而闻名，其对质量的承诺在VersaXRM的每个方面都显而易见，包括VersaXRM 730上的专用ZXR-1 X射线源。相信你的投资会经受住时间的考验，满足你未来几年的需求。

• 分辨率和性能-蔡司VersaXRM 730

• 更快的亚微米成像-蔡司VersaXRM 615

• 灵活性和易用性-蔡司Xradia 515 Versa

VersaXRM 730

蔡司VersaXRM 730提供了比市场上任何高级XRM更广泛的选择。该系统提供突破性的分辨率性能，通过直观的用户体验将可访问性提升到一个新的水平，并通过更快的吞吐量和更快的见效时间来提高生产率。现在标配25W ZXR-1 X射线源。

• 450纳米空间分辨率与性能

• ZEN navx以用户为中心的制导和控制

• 一分钟断层摄影和端到端3D

VersaXRM 615

蔡司VersaXRM 615通过创新的光源和光学技术拓展了您的探索极限。更高的通量和基于人工智能的recon以行业分辨率和对比度提供更快的断层摄影。

• RaaD的空间分辨率为500纳米

• 25W X射线源

• FPX使能快速模式

推动科学进步的极限

蔡司Xradia 515 Versa在一个大型平台上提供了分辨率，打破了3D成像的1微米障碍，使同步加速器口径的研究对于中型成像中心和工业实验室更加实用。

• 500纳米纳米空间分辨率

• 40纳米最小可实现体素

• 10瓦快速激活密封源VersaXRM 730

VersaXRM 730

蔡司VersaXRM®730提供亚微米成像，分辨率为450-500纳米，电压范围为30-160千伏，40倍主物镜。它的ZEN navx®自动化用户导航和控制系统以及人工智能驱动的DeepRecon Pro简化了工作流程，优化了图像质量，提高了吞吐量。它专为可访问性而设计，支持广泛的用户范围，为您的整个团队轻松实现高级研究功能。创新的蔡司专用ZXR-1
VersaXRM 730上的x射线源标准进一步实现了VersaXRM“保护您的投资"的承诺，为持续创新提供了平台。

VersaXRM 615

使用蔡司VersaXRM 615，为您的科学和工业研究开启新的多功能度站台。这款经济高效的X射线显微镜解决方案提供了优良的分辨率和对比度，进一步推动了无损成像技术的发展，从而加快了研究速度。借助创新的X射线源和光学技术，享受保持高质量的快速断层扫描。无缝的工作流程和基于人工智能的DeepRecon Pro深度学习，有助于在不改变样品的情况下发现高分辨率的感兴趣区域。

推动科学进步的极限

蔡司Versa X射线显微镜上的快速模式可通过连续运动扫描对所有样品进行快速3D图像采集。与可选的平板探测器(FPX)配合使用，该模式允许在不同角度的X射线图像采集过程中不间断地旋转样品，消除了传统的分步拍摄采集的开销延迟。因此，当曝光时间低于0.5秒时，可以获得显著更快的扫描时间，这对于大型、灵敏的FPX检测器来说是典型的。预期采集时间通常从< 1到5分钟，对于不太严格的图像质量需求，甚至低于20秒。由于与ZEN navx中的Volume Scout工作流程集成，快速模式可以对所有样品进行真正的、接近实时的3D导航。快速模式采集与Volume Scout无缝集成，可在复杂样品中实现近乎即时的反馈和真正的3D导航，到达正确的感兴趣区域。