详细介绍
| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 化工,生物产业,能源,电子/电池,电气 |
ZEISS METROTOM 1 x射线工业ct设备使用方便,可提供精确的三维数据,确保由内而外的质量控制。

ZEISS METROTOM 1为您工作的快速推进保驾护航:无需对零件进行任何预处理,即可采集精确的3D数据。借助计算机断层扫描技术,您可以对零件进行无损扫描并查看内部结构。能够测量、分析和检验隐蔽缺陷及内部结构。与ZEISS INSPECT软件结合使用,达到了简化质量控制流程的新境界。

该系统操作简便,各类用户都可以通过该系统开启测量过程,并获取精确的数据。METROTOM 1体积小巧,可轻松适配您的空间。只需按下按钮,即可在机构内部开始测量和检查。这款智能、紧凑型解决方案配备了封闭式X射线管,旨在降低维护成本。

您可以使用METROTOM 1进行无损扫描,检验内部结构和缺陷。无需对零件进行任何预处理,即可开始测量过程。在扫描下一个零件时,可同时对上一个零件进行检验或逆向工程。

同时测量多个零件是METROTOM 1高效的功能之一。规则很简单:大程度地利用测量体积,实现大批量测量。结果:在确保测量效果的同时,缩短了每个零件的扫描时间。ZEISS INSPECT可自动分离和评估各个零件,从而快速提供测量结果报告。

METROTOM 1搭载的ZEISS INSPECT软件可指导您逐步完成测量过程。凭借体积可视化以及对扫描数据的检验功能,您可以了解零件的所有尺寸,包括隐藏部分的尺寸信息。通过对零件内部和外部结构的扫描,可以轻松对零件进行逆向工程处理。
既简单又高效。仅需一次扫描。METROTOM 1可为您提供以下支持:
对中小型部件进行3D扫描
精确测量
质量检验和保证
对废品进行深入分析
对照CAD检查相应的部件

电压、功率、曝光时间和步数是计算机断层扫描(CT)的一些重要测量参数。ZEISS METROTOM 1在运行过程中,会依托ZEISS INSPECT自动确定这些参数值。软件可为您提供最佳起始值,从而降低扫描设置的复杂度。METROTOM 1以操作简便、采集速度快和评估功能直观为立足之本。一体化概念值得信赖。

ZEISS METROTOM 1 x射线工业ct设备可在多种环境中使用。其设计坚固耐用,除此之外,还可以防止内部温度出现波动。主动冷却系统可确保系统正常运行:它能确保系统内外温度相同,防止零件发生任何热膨胀。METROTOM 1是一款采用了前沿技术的、稳定的重负载系统。

METROTOM 1搭载 ZEISS INSPECT软件,是以用户为中心的一体化软件解决方案,也是三维计量的既定标准。它功能强大,包括体积可视化和检验、尺寸计量、趋势分析和比较、缺陷检测和检验等,使其成为可充分发挥系统各项功能的理想工具。

在生产过程中以及现场安装后,每台METOROTOM 1均会接受精度检查。进行精度检查时,会使用经过校准和德国认可委员会(DAkkS)认证的验收工具。您可以随时使用现场的校准物重新校准扫描仪。

在165 x 140 mm的测量体积内,可以轻松测量任何零件。可通过数字方式对测量体积进行微调。同时,还可以根据需要调整分辨率,加快测量过程,从而缩短扫描时间。

这款紧凑型系统配备以下配件:
校准物
连续扫描模式
ZEISS INSPECT
160 kV的X射线源
主动温度控制
操作站
2.5k探测器
温控柜
ZEISS研发的探测器

质量控制和检验
CAD与零件的标称值/实际值比较
尺寸测量
零件任意深度的截面检验
分析壁厚分布
功能尺寸
工具和模具制造
通过扫描按不同参数生产的多个样品,确保准确无误
减少了过程中的迭代次数
通过快速检验多个零件来监控生产过程
工具/模具获批后采集实际值
部件翘曲补偿
产品研发和设计
检查透明物体和软聚合物等高要求产品
组件的功能和误差分析
无损分析材料缺陷,如气孔、孔隙或裂纹
对现有零件或零件几何形状进行逆向工程
验证工程设计
METROTOM 1
X射线源 160 kV
X射线探测器(像素) 2.5 k (2,500 x 2,500)
测量体积 165 x 140 mm
计量规格(MPE SD) 5 µm +L/100
尺寸 1750 mm(宽)x 1820 mm(高)x 870 mm(深)
重量 2100 kg
软件 ZEISS INSPECT
体素尺寸 低至 32.6 µm
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