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polar CITS880控制阻抗测试系统

更新时间:2019-10-16

简要描述:

polar CITS880控制阻抗测试系统CITS880是Polar的第八代阻抗测试系统,通常是阻抗控制新客户喜欢的型号。CITS880提供差分和单端测量功能以及4个通道,以提供灵活的探头连接。

polar CITS880控制阻抗测试系统

CITS880控制阻抗测试系统

作为PCB制造商,几乎可以肯定的是,您现在可以为客户生产阻抗受控的PCB –估计这些类型的板约占市场的70%。但是,您如何验证PCB的特性,控制生产过程并向客户证明其质量合格?

CITS880是Polar的第八代阻抗测试系统,通常是阻抗控制新客户喜欢的型号。CITS880提供差分和单端测量功能以及4个通道,以提供灵活的探头连接。

受控阻抗PCB被广泛用于各种应用中,以帮助确保高频信号的完整性。每当数字信号的边沿速度超过1ns或模拟信号攀升至300MHz以上时,设计人员总是这些类型的PCB。

CITS880 –简化阻抗测量

专为PCB生产环境而设计,
非常适合CEM内向检查
测量PCB和测试试样
客户*性报告
自动数据记录
紧密耦合迹线的增强准确性
多点可跟踪校准
可选的串扰测试设施
借助Speedstack
 PolarCare维护和支持生成CITS测试程序

PCB走线的特征阻抗取决于走线的尺寸和PCB材料的特性-批次之间可能会有所不同。为了控制走线阻抗,PCB制造商通常会改变走线宽度,以补偿不同批次的PCB材料。从历*看,然后他们被迫使用专业的实验室设备,例如时域反射仪(TDR)来测量刻在板上或测试试样上的代表性迹线的特性。这种方法复杂,昂贵且在生产环境中远非理想。

许多电子设计人员,尤其是那些在国防/航空,通信和IT行业中突破性能极限的设计人员,现在正在通过使用差分信号和平衡走线来提高阻抗抗扰度并减少超高速互连的时序误差,从而将可控阻抗PCB进一步提高了。对于服务于这些快速增长的电子行业的PCB制造商而言,验证这些平衡走线的差分阻抗现在是一项简单的任务。

polar CITS880控制阻抗测试系统极性测试探针

Polar生产广泛的特殊测试探头,包括此处所示的IPD-100差分模型。创新的可变螺距模型,称为IP-50V,也可用于实验室。

CITS800s
点击图片查看应用

通过确保您的优惠券采用以下“探针零件号之一进行设计,将IP探针的成本降至低:

IP50 / 0.1英寸,IP50 / 0.14英寸
ACC270,ACC272 
ACC274,ACC275

Polar的  优惠券生成器将使您能够使用多种样式和探针脚印来设计测试优惠券。

有关探头脚印的完整选择,请参见应用笔记AP146。

易于使用

CITS阻抗测试系统非常易于使用。基于Windows的强大软件可以自动化测试的各个方面,只需单击鼠标或脚踏开关即可控制整个过程。您只需放置微带探头,选择一个包含正常PCB测试阻抗和公差的测试文件,然后按下脚踏开关即可。不需要执行通常与复杂TDR测量相关的任何调整,例如设置垂直增益,脉冲时间延迟和时基值。为了获得大的吞吐量,CITS可以自动执行一系列阻抗测试,

测试结果易于理解-CITS自动处理数据,以清晰显示特征阻抗与距离的关系,并清晰显示通过/未通过状态。

自动数据记录功能可将测试结果以及系统设置数据和测量标准轻松导出到各种第三方数据库或电子表格程序包,以进行实时统计过程控制。每个测试的通过/失败状态也可通过仪器后面板上的光电隔离信号获得,从而有助于与其他工厂自动化设备集成。

可追溯的测量活动

可追溯的测量精度补充了CITS的操作简便性。此外,质量保证专家仍然可以自由复杂的测量参数以及标准测试功能,例如通过/失败限制,结果处理和数据记录。

使用参考空气线进行多点校准可确保从28欧姆以下的单端到150欧姆以上的差分可追溯的阻抗测量。

您可以打印测试结果以为客户提供*性报告,可以将数据存储在磁盘上以用于存档或将来分析,也可以将其导出以用于实时SPC。可选的数据日志报告生成器(DRG)可容纳多种标准格式,以简化报告过程。条形码阅读器也作为选件提供,它可以在测试过程中扫描PCB识别标签,从而减少了处理时间并消除了错误。

设计和过程控制

在考虑开始进行阻抗控制的生产时,您还会发现Polar Si8000m阻抗控制设计系统可帮助您根据生产过程定制客户设计。这也是帮助您的前端团队优化输入数据以大程度地控制阻抗产生的理想选择。与CITS和Si8000m一起使用将为您提供阻抗测试和过程控制的完整解决方案。

自动生成测试程序

Speedstack层叠层软件现在可以直接从控制阻抗输出CITS880测试程序叠层。

具有CITS DRG的专业报告-数据日志报告生成器选项

CITS DRG数据日志报告生成器选项使您可以以专业格式交付完成的测量结果报告。

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