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联讯rBT1250 10G突发误码分析仪 rBT1250 专门针对 EPON、GPON 、XGPON及XGSPON应用突发误码测试及分析。 rBT1250提供3个独立通道数据码型发生器和误码探测，支持连续模式或突发模式误码分析。码型时序灵活可调，并针对器件测试需求，给相应测试通道提供同步的激光器使能、模块复位信号等低速控制通道。而且rBT1250 内置时钟恢复，可以自动测距，对长纤测试毫无问题。从
联讯PBT8812 53GBaud PAM4误码仪 联讯仪器 pBT8812 高性能8x112Gb/s误码分析仪，可支持多至8组业务通道。 - 各通道可独立配置为NRZ或PAM4信号制式。 - 速率最高可支持56 GBaud (112Gb/s@Pam4)。
联讯PBT8856 PAM4误码仪28GBaud 多通道：1/2/4/8路PAM4码型发生器及误码探测器通道； 速率（准）连续可调：25/25.78125/26.56/27.89/28.125GBaud标准测试速率； 输出幅度可调
联讯mBT5210多通道25G误码分析仪主要特点： 多通道：4/8路独立码型发生器及误码探测器通道； 速率（准）连续可调：9.953Gb/s~32Gb/s标准测试速率； 输出出幅度可调：4通道输出幅度独立可调；
联讯mBT3210多通道10G误码分析仪主要特点： - 多通道：1/2/4路独立码型发生器及误码探测器通道； - 速率（准）连续可调：1.25Gb/s~14.5Gb/s标准测试速率； - 输出幅度可调：输出幅度独立可调；
SE800PV激光椭偏仪光谱椭偏仪SE 800 PV是分析结晶和多晶硅太阳能电池防反射膜的理想工具。可以测量单层薄膜（SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3）和多层叠层膜（SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3）。
SENTECH台式薄膜探针反射仪FTPadv通过选择合适的配方，FTPadv反射仪以小于100ms的测量速度、精度小于0.3nm、厚度范围为50nm-25μm的精度进行厚度测量。
RM1000反射膜厚仪反射膜厚仪RM 1000和RM 2000测量具有光滑或粗糙表面的平坦或弯曲样品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert软件计算单层或层叠膜的厚度、消光系数和折射率指数。在紫外-可见光- 近红外光谱范围内，可以分析5nm～50μm厚度的单层膜、层叠膜和基片。
